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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù)。

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實(shí)時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。